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【ナノテク】透過型電子顕微鏡を分解することなくクリーニングする手法を開発 産総研ら

1 : ◆NASA.emcN. @びらぼんφ ★:2008/07/07(月) 19:04:24 ID:???
独立行政法人産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門ナノ科学計測
グループ堀内 伸 主任研究員は、株式会社シーゼットアイと共同で、透過型
電子顕微鏡(TEM)をクリーニングし、顕微鏡本体から試料への汚染(コンタミ
ネーション)を防止する手法の開発に成功した。

透過型電子顕微鏡は、物体をナノメートルレベルで観察する装置として、材料、
バイオ分野などにおいて広く用いられているが、長期間使用することにより
装置内部に残存する汚染物が試料に付着して、観察・分析能力を低下させる
ことが問題となっている。

今回、プラズマ発生装置から生成させた活性酸素を顕微鏡内部に循環させる
ことにより、顕微鏡を分解することなく汚染物を除去することに成功した。

これにより、顕微鏡本体から試料への汚染が低減され、分析能力が向上する。
汚染物は成分元素として炭素を含むので、特に高分子等の有機材料中における
軽い元素の分析に効果を発揮する。

今回の開発は、電子線トモグラフィー、ナノビーム電子回折、EELS(電子線
エネルギー損失分光)、EDX(X線エネルギー分光)、 STEM(走査透過型
電子顕微鏡)など、長時間の電子線照射が必要な分析装置にも有効であり、
最先端の材料分析に貢献できる。

研究の詳細は、平成20年8月3〜7日にアメリカ・アルバカーキで開催されるアメリカ
顕微鏡学会主催Microscopy & Microanalysis 2008で発表の予定である。

(長文の為抜粋しました。続きは以下のソースをご覧下さい)
http://www.aist.go.jp/aist_j/press_release/pr2008/pr20080707/pr20080707.html
画像:
http://www.aist.go.jp/aist_j/press_release/pr2008/pr20080707/fig1.jpg
(本技術によるクリーニング前後)
産業技術総合研究所プレスリリース 2008年7月7日

2 :実習生くん:2008/07/07(月) 19:09:13 ID:fxjeC089
毛糸洗いに自信が持てます

3 :名無しのひみつ:2008/07/07(月) 19:16:36 ID:kbLxkfbi
こういう運用・メンテナンス技術が大事なんだ!


4 :名無しのひみつ:2008/07/07(月) 20:34:13 ID:i2KCowoQ
中に試料落ちたorz

5 :名無しのひみつ:2008/07/08(火) 04:48:04 ID:TMRKh1RI
うむ、これは良い技術だ。
しかし活性酸素と聞くと、なんとなく胡散臭い感じがしてしまう。

6 :名無しのひみつ:2008/07/08(火) 06:33:49 ID:1RE1A0yx
TEMのTは透過型のT
SEMのSは走査型のS

7 :名無しのひみつ:2008/07/08(火) 07:22:52 ID:yM+soeCz
とりあえずこのチームには特亜人は居ないようだが株式会社シーゼットアイと言う謎の会社が激しく不安だ。


8 :名無しのひみつ:2008/07/08(火) 13:15:23 ID:lukdjnI+
>>6
微妙に誤解があるww

9 :名無しのひみつ:2008/07/08(火) 20:19:29 ID:UCLS1YFe
>プラズマ発生装置から生成させた活性酸素を顕微鏡内部に循環

ぷらずま と かっせいさんそ  詐欺だ

10 :名無しのひみつ:2008/07/08(火) 20:30:16 ID:9OKw5fQC
脱がすことなくクンニリングですか、わかります

11 :名無しのひみつ:2008/07/08(火) 20:38:01 ID:D3PyqWri
電顕スレはのびない

12 :名無しのひみつ:2008/07/08(火) 21:09:25 ID:AV+5S9o/
>>4
次のメンテまでお待ちください・・・
(客からの依頼物落としたときは涙目)


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